48067
میکروسکوپ نیروی اتمی - Atomic Force Microscopy - AFM
Standard (نسل جدید)
ابتدا یا وارد کارتابل خود شده و یا در صورتی که هنوز در سامانه ثبت نام ننموده اید اقدام به ثبت نام کاربری جدید نمایید
سطح اول
ندارد
AFM اصلی ترین ابزار در اجرای پروژوهای نانو فناوری و نوعی نانواسکوپ بوده که علاوه بر تصویربرداری با دقت نانومتری قابلیت تعیین خواص مختلف نمونه ها در مقیاس نانو را دارا میباشد. مزیت های AFM نسبت به سایر روش های تصویربرداری نانومتری عبارتند از:عدم نیاز به آماده سازی نمونهعدم محدودیت در نوع و جنس نمونهعدم نیاز به محیط خلاءقابلیت انجام آنالیزهای ابعادی در هر سه راستانسل جدید این محصول در زمینه طراحی ظاهری نوآورانه و کم حجم، سهولت کاربری، عملکرد دقیق و با سرعت بالا و همچنین کیفیت بالای ساخت آن نسبت به نمونه های قبل پیشرفت چشمگیری داشته است.مُدهای عملکردی در این مدل Contact, Non-Contact, Tapping, LFM می باشد.
| نام | حداکثر تعداد مشمول حمایت | تصاویر |
|---|---|---|
|
کانتبلور تماسی
|
۵ عدد | مشاهده تصویر |
|
کانتیلور غیر تماسی
|
۵ عدد | مشاهده تصویر |
|
ژل باکس
|
۱ عدد | مشاهده تصویر |