14402
میکروسکوپ نیروی اتمی - Atomic Force Microscopy - AFM
Experts Kit
-
ندارد
با استفاده از این کیت میتوان در مُدهای عملکردی Chemical Nano-Lithography, Force Modulation Microscopy (FMM) ,Conductive AFM (C-AFM), Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) ,Piezoresponse Force Microscopy (PFM) کار کرد و مشخصات زیر را از نمونه بدست آورد: خواص الکتریکی مواد و تابع کار اتم های سطح و همچنین نقشه رسانایی تصویرگیری از تغییرات هدایت الکتریکی نواحی مختلف سطح نمونه و بدست آوردن منحنی I-V و مشخصه های کوانتمی اتم های سطح مشخصات الاستیک مواد و تشخیص مرزهای مواد مختلف یافتن مشخصه های رفتاری مواد و نمون های پیزو الکتریک همراه با این کیت نرم افزار و سخت افزار مربوطه، بسته آموزشی مربوطه، نمونه های استاندارد C-AFM، KPFM، FMM و PFM همچنین پروب های مرتبط با مُدهای کاری همچون پروب های با طول کانتیلور بلند و پروب های رسانا ارائه میگردد.